當(dāng)掃描電鏡（SEM）樣品尺寸太大，無法直接放入樣品倉或樣品臺時(shí)，可以采取以下幾種方法應(yīng)對，確保安全、成像清晰且設(shè)備不受損：

一、判斷“太大”的具體問題在哪：

樣品倉空間不足

樣品太高或太寬，裝不進(jìn) SEM 的樣品室。

樣品臺行程限制

就算勉強(qiáng)放得下，也可能無法移動、旋轉(zhuǎn)、傾斜觀察。

電子槍距離樣品過近

導(dǎo)致無法聚焦，甚至撞擊探頭或噴嘴。

二、解決方法

1. 對樣品進(jìn)行裁切或分段取樣

若樣品可破壞處理，建議切取其中具有代表性的一小塊進(jìn)行觀察；

使用切割機(jī)、磨片機(jī)等工具，保留感興趣區(qū)域。

2. 調(diào)整安裝方式

將樣品側(cè)放、斜放、倒放，嘗試不同角度安裝；

使用特制夾具或底座適配非標(biāo)準(zhǔn)尺寸；

部分 SEM 樣品臺可調(diào)節(jié)高度，嘗試降低平臺或使用薄載物盤。

3. 使用斷面觀察方式

對大型樣品切取橫截面或表面層，便于分析內(nèi)部結(jié)構(gòu)或表面涂層。

4. 升級或更換樣品艙配件

一些 SEM 提供大樣品腔體或定制腔體，可更換腔門或支架適應(yīng)大型樣品；

或聯(lián)系廠家獲取更大尺寸適配件。

5. 使用臺式 SEM

某些臺式 SEM支持更寬松的樣品空間設(shè)計(jì)；

適合對小區(qū)域進(jìn)行快速觀察，適應(yīng)性較好。

6. 必要時(shí)借助非接觸成像設(shè)備

若樣品無法切割、且尺寸超限，可考慮光學(xué)顯微鏡、激光掃描顯微鏡等作為補(bǔ)充手段。