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澤攸科技原位TEM | 基于原位透射電子顯微鏡的倒裝芯片凸點界面微觀失效機制研究

澤攸科技作為中國本土的儀器公司，是原位電子顯微鏡表征解決方案的一流供應商，推出的PicoFemto系列的原位透射電子顯微鏡表征解決方案，陸續(xù)為國內(nèi)外用戶的重磅研究成果提供了技術支持。

從NanoMi到澤攸科技，我們看到了一條清晰的技術進化路徑。NanoMi以開源的精神，向我們揭示了電子光學的第一性原理：用靜電場構建透鏡，用電壓控制軌跡。

澤攸科技JS系列臺階儀作為國產(chǎn)高精度表面測量設備的代表，憑借其創(chuàng)新的技術架構、靈活的應用場景及可靠的測量性能，可以對微納結構進行膜厚和臺階高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。

長期以來，電子顯微鏡被視為精密儀器皇冠上的明珠，但其龐大的體積、高昂的造價以及復雜的維護體系，使其成為一個令普通實驗室望而卻步的“黑盒”。

澤攸科技自主研發(fā)的ZEM系列臺式掃描電鏡為例，其配備的低真空成像技術，正是應對電荷效應的利器。

澤攸科技ZEM系列掃描電鏡是一款集成度高、便攜性強且經(jīng)濟實用的科研設備。它具備快速抽真空、高成像速度、多樣的信號探測器選擇，適用于形貌觀測和成分分析，還能適配多種原位實驗需求。

在實際應用中，澤攸科技的設備已被用于二維材料器件的電極制備、微流控芯片的快速成型、以及與電子束光刻（EBL）的混合套刻等前沿研究中，充分展現(xiàn)了其在快速原型制造和多功能集成方面的潛力。